Das irSys® E Spektrometer basiert auf dem Grundprinzip des scannenden Gitterspektrometers mit elektrostatisch angetriebenem mikromechanischem Schwingspiegel.
irSys® E Spektrometer Das prozessintegrierbare NIR-Spektrometer von TQ.
Das irSys® E Spektrometer basiert auf dem Grundprinzip des scannenden Gitterspektrometers mit elektrostatisch angetriebenem mikromechanischem Schwingspiegel.
- Kompakter Aufbau
- Geringes Gewicht
- Kurze Messzeiten
- Lange Lebensdauer (verschleißfreier Spiegel)
- Flexibel an unterschiedliche Einsatzfälle anpassbar
Die zu analysierende elektromagnetische Strahlung passiert einen Eingangsspalt und trifft auf ein Beugungsgitter, ehe sie in ihre Spektralbestandteile zerlegt wird. Diese Spektralanteile gelangen durch Austrittsspalte auf zwei Einzeldetektoren, die zeitlich nacheinander das Spektrum der Strahlung erfassen. Die Selektion der jeweiligen Wellenlängen erfolgt durch einen mikromechanischen Spiegel (MEMS), der die Strahlung unter verschiedenen Einfallswinkeln auf das Beugungsgitter lenkt. Mit Hilfe der Auswertungssoftware (siehe Software) werden die Einzelspektren der beiden Sensoren zu einem Gesamtspektrum zusammengesetzt. Aufgrund des scannenden Verfahrens mit etwa 250 Durchläufen je Sekunde ist das Spektrometer besonders zur Detektion zeitlich konstanter Spektren geeignet.
Allgemeine Daten/Basisdaten
Streulichtunterdrückung:
- -30 dB
Spaltbreite (Alternativen):
- 300 µm (350 µm, 250 µm, 200 µm, 150 µm)
Wellenlängengenauigkeit (nach Autokalibration):
- < 1 nm; ± 0,1 nm (Kurzzeitjitter)
Messperiode:
- 4 ms (Einzelmessung)
Datendurchsatz:
- 80 Spektren / Minute
Empfohlener Fasertyp:
- 400 µm; 0,22 NA
Faseranschluss:
- SMA 905
Einsatztemperaturbereich:
- 5 bis 45 °C
Abmessung:
- 138 mm x 89 mm x 66 mm
Gewicht:
- 840 g
Schnittstellen:
- USB / RS-485
Unterstützte Betriebssysteme:
- Win XP / Win 7